分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
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IGBT測試儀

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商品介紹
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品牌 易恩電氣
測試范圍 二極管,MOS,IGBT
分辨率 1mV 1nA
測試參數(shù) 短路,反向恢復,柵電荷,開關測試
產地 陜西西安
商品介紹

EN-1230A分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是由西安易恩電氣科技有限公司自主研制、生產的半導體分立器件動態(tài)參數(shù)測試的專用設備,通過使用更換不同的測試工裝可以對不同封裝的半導體器件進行非破壞性瞬態(tài)測試,通過軟件切換可以對不同器件進行動態(tài)參數(shù)測試??捎糜诳旎謴投O管、雙極型三極管、IGBT、MOSFET的測試。測試原理符合國軍標,系統(tǒng)集成度高,性能穩(wěn)定,具有升級擴展?jié)撃芎土己玫娜藱C交互。

該設備具有如下特點:

1、該試驗臺是一套大電流、高電壓的測試設備,電流最大可擴展至8000kA,電壓最大可擴展至10kV,對設備的電氣性能要求高。

3、該試驗臺的測試控制完全采用自動控制,測試可按測試員設定的程序進行自動測試。

4、該試驗臺采用計算機記錄測試結果,并可將測試結果轉化為EXCEL文件進行處理。

5、該套測試設備主要由以下幾個單元組成:

 開關特性測試單元

 反向恢復測試單元

 柵極電荷測試單元

 安全工作區(qū)測試系統(tǒng)

 結電容測試單元

 柵極內阻測試單元

 雪崩耐量測試單元

功能范圍:

可對各類型二極管、雙極型晶體管、場效應晶體管等報道提分立器件的各項動態(tài)參數(shù)如開通時間、關斷時間、上升時間、下降時間、導通延遲時間、關斷延遲時間、開通損耗、關斷損耗、柵極總電荷、柵源充電電量、平臺電壓、反向恢復時間、反向恢復充電電量、反向恢復電流、反向恢復損耗、反向恢復電流變化率、反向恢復電壓變化率、集電極短路電流、輸入電容、輸出電容、反向轉移電容、柵極串聯(lián)等效電阻、雪崩耐量進行測試。

環(huán)境要求

1、環(huán)境溫度:15—40℃

2、相對濕度:存放濕度不大于80%

3、大氣壓力:86Kpa—106Kpa

4、海拔高度:1000米以下

5、電網(wǎng)電壓:AC220V±10%無嚴重諧波

6、電網(wǎng)頻率:50Hz±1Hz

7、電源功率:20KW

8、供電電網(wǎng)功率因數(shù):>0.9

9、無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等空氣污染的損害。


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公司名稱 西安易恩電氣科技有限公司
聯(lián)系賣家 李想
手機 専尅尃射尊尃尋尃尅尉尃
地址 陜西省西安市