IV曲線追蹤掃描儀&半導(dǎo)體圖示儀能測(cè)IGBT. Mosfet. Diode. BJT......

STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)能測(cè)試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開(kāi)啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dǎo)通內(nèi)阻Rds(on)）。

測(cè)試種類(lèi)覆蓋 7 大類(lèi)別26分類(lèi)，包括“二極管類(lèi)”“三極管類(lèi)（如BJT、MOSFET、IGBT）”“保護(hù)類(lèi)器件”“穩(wěn)壓集成類(lèi)”“繼電器類(lèi)”“光耦類(lèi)”“傳感監(jiān)測(cè)類(lèi)”等品類(lèi)的繁多的電子元器件。

高壓源標(biāo)配1400V（選配2KV），高流源標(biāo)配100A（選配40A,200A,500A）

控制極/柵極電壓40V，柵極電流100mA

分辨率最高至1.5uV / 1.5pA，精度最高可至0.1%

STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)適用于曲線追蹤儀還可測(cè)試“結(jié)電容”，支持“脈沖式一鍵加熱”和“分選機(jī)連接”

陜西天士立科技有限公司

研發(fā)生產(chǎn) 半導(dǎo)體檢測(cè)·電學(xué)檢測(cè)·可靠性檢測(cè)·老化實(shí)驗(yàn)  各類(lèi)儀器設(shè)備

第一部分：規(guī)格&環(huán)境

1.1、產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號(hào)：STD2000

產(chǎn)品名稱：IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)

1.2、物理規(guī)格

主機(jī)尺寸：深660*寬430*高210(mm)

主機(jī)重量：＜35kg

1.3、電氣環(huán)境

主機(jī)功耗：＜300W

海拔高度：海拔不超過(guò) 4000m；

環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲(chǔ)存）、5℃～50℃（工作）；

相對(duì)濕度： 20%RH～75%RH (無(wú)凝露，濕球溫度計(jì)溫度 45℃以下)；

大氣壓力：86Kpa～106Kpa；

防護(hù)條件：無(wú)較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導(dǎo)電粉塵等；

電網(wǎng)要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

工作時(shí)間：連續(xù)；

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第二部分：應(yīng)用場(chǎng)景和產(chǎn)品特點(diǎn)

一、應(yīng)用場(chǎng)景

1、測(cè)試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試，主要功能為曲線追蹤儀）

2、失效分析（對(duì)失效器件進(jìn)行測(cè)試分析，查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過(guò)程提出改善方案）

3、選型配對(duì)（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試，將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類(lèi)配對(duì)）

4、來(lái)料檢驗(yàn)（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

5、量產(chǎn)測(cè)試（可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類(lèi)輔助機(jī)械設(shè)備，實(shí)現(xiàn)規(guī)模化、自動(dòng)化測(cè)試）

6、替代進(jìn)口（STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)可替代同級(jí)別進(jìn)口產(chǎn)品）

二、產(chǎn)品特點(diǎn)

1、程控高壓源10~1400V，提供2000V選配；

2、程控高流源1uA~100A，提供40A,200A,500A選配；

3、驅(qū)動(dòng)電壓10mV~40V

4、控制極電流10uA~100mA；

5、16位ADC，1M/S采樣速率；

6、自動(dòng)識(shí)別器件極性 NPN/PNP

7、曲線追蹤儀，四線開(kāi)爾文連接保證加載測(cè)量的準(zhǔn)確

8、通過(guò) RS232 接口連接校準(zhǔn)數(shù)字表，對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行校驗(yàn)

9、不同的封裝形式提供對(duì)應(yīng)的夾具和適配器（如TO220、SOP-8、DIP、SOT-23等等）

10、IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)能測(cè)很多電子元器件（如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等）；

11、IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)曲線追蹤儀（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開(kāi)啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dǎo)通內(nèi)阻Rds(on) ）

12、結(jié)電容參數(shù)也可以測(cè)試，諸如Cka，Ciss，Crss，Coss；

13、脈沖電流自動(dòng)加熱功能，方便高溫測(cè)試，無(wú)需外掛升溫裝置；

14、Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin），連接分選機(jī)最高效率1h/9000個(gè)；

15、IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)在各大電子廠的IQC、實(shí)驗(yàn)室有著廣泛的應(yīng)用；

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第三部分：產(chǎn)品介紹

3.1、產(chǎn)品介紹

STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng) 是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)的多年經(jīng)驗(yàn)，以及眾多國(guó)內(nèi)外測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后，完全自主開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的全新一代“IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)”。軟件及硬件均由團(tuán)隊(duì)自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。

IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)脈沖信號(hào)源輸出方面，高壓源標(biāo)配1400V（選配2KV），高流源標(biāo)配100A（選配40A,200A,500A）柵極電壓40V，柵極電流100mA，分辨率最高至1uV / 1.5pA，精度最高可至0.1%。程控軟件基于Lab VIEW平臺(tái)編寫(xiě)，填充式菜單界面。采用帶有開(kāi)爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座，自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。產(chǎn)品可測(cè)試 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等7大類(lèi)26分類(lèi)的電子元器件。涵蓋電子產(chǎn)品中幾乎所有的常見(jiàn)器件。無(wú)論電壓電流源還是功能配置都有著極強(qiáng)的擴(kuò)展性。

產(chǎn)品為桌面放置的臺(tái)式機(jī)結(jié)構(gòu)，由測(cè)試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類(lèi)夾具和適配器，還能夠通過(guò)Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin）連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站，實(shí)現(xiàn)快速批量化測(cè)試。通過(guò)軟件設(shè)置可依照被測(cè)器件的參數(shù)等級(jí)進(jìn)行自動(dòng)分類(lèi)存放。能夠極好的應(yīng)對(duì)“來(lái)料檢驗(yàn)”“失效分析”“選型配對(duì)”“量產(chǎn)測(cè)試”等不同場(chǎng)景。

IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)產(chǎn)品的可靠性和測(cè)試數(shù)據(jù)的重復(fù)性以及測(cè)試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點(diǎn)控式夾具”讓操作人員在夾具上實(shí)現(xiàn)一點(diǎn)即測(cè)。操作更簡(jiǎn)單效率更高。測(cè)試數(shù)據(jù)可保存為EXCEL文本，方便快捷的完成曲線追蹤儀。

3.2、人機(jī)界面（STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)）

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第四部分：功能配置

4.1、配置選項(xiàng)

STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)的功能配置如下

4.2、適配器選型

STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)的適配器有如下

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STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)能測(cè)很多電子元器件（如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等）產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用在院所高校、封測(cè)廠、電子廠