XAU系列能量色散X熒光光譜分析儀，是一款配備SDD探測器的高效率鍍層測厚儀！

        此款產(chǎn)品可適用于固體和液體的含量檢測，用于液體中高含量金屬成分的檢測，滿足高測試精度和高準(zhǔn)確度。

        搭配微聚焦X射線發(fā)生器和先進(jìn)的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，以及高敏變焦測距裝置，可測試極微小和異形樣品。

        含量分析檢出限最低1ppm，可檢測鍍層厚度0.005um ，最小測量面積0.04mm2 ? 凹槽深度測量范圍可達(dá)0至30mm，特殊要求可達(dá)90mm。

        外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動，移動精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的樣品測試都可輕松操作。

     

技術(shù)參數(shù)：

1.探測器：半導(dǎo)體冷卻硅漂移SDD探測器

2.探測器分辨率：130±5ev (可檢測元素范圍：鈉（Na）~鈾（U）)

3.涂鍍層分析范圍：各種元素及有機(jī)物

4.可一次性同時分析：23層鍍層，24種元素

5.最小測量面積：0.04mm2

6.對焦距離：0-30mm，特殊要求可達(dá)90mm

7.樣品腔尺寸：500mm×360mm×215mm

8.儀器尺寸：550mm×480mm×470mm

9.儀器重量：45kg

儀器配置：

1.微焦X射線發(fā)生器

2.光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)

3.高敏變焦測距裝置

4.半導(dǎo)體冷卻硅漂移SDD探測器

5.先進(jìn)的數(shù)字多道分析

6.高精度微型移動滑軌

7.標(biāo)準(zhǔn)片Ni/Fe 5um

8.標(biāo)準(zhǔn)片Au/Ni/Cu 0.1um/2um

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