XAU-4C X射線熒光光譜儀 鍍金鍍銀厚度分析儀
XAU-4C X射線熒光光譜儀 鍍金鍍銀厚度分析儀
XAU-4C X射線熒光光譜儀 鍍金鍍銀厚度分析儀
XAU-4C X射線熒光光譜儀 鍍金鍍銀厚度分析儀
XAU-4C X射線熒光光譜儀 鍍金鍍銀厚度分析儀
XAU-4C X射線熒光光譜儀 鍍金鍍銀厚度分析儀

XAU-4C-X射線熒光光譜儀-鍍金鍍銀厚度分析儀

價格

訂貨量(個)

¥188000.00

≥1

聯(lián)系人 楊經(jīng)理

㜉㜆㜈㜆㜋㜌㜇㜉㜅㜄㜄

發(fā)貨地 廣東省深圳市
進入商鋪
掃碼查看

掃碼查看

手機掃碼 快速查看

在線客服

深圳南山區(qū)美程精密儀器商行

店齡5年 企業(yè)認證

聯(lián)系人

楊經(jīng)理

聯(lián)系電話

㜉㜆㜈㜆㜋㜌㜇㜉㜅㜄㜄

所在地區(qū)

廣東省深圳市

進入店鋪
收藏本店

如果這是您的商鋪,請聯(lián)系我們

商品參數(shù)
|
商品介紹
|
聯(lián)系方式
品牌: ELITE
重量: 90kg
類型: 鍍層測厚儀
電壓: 220v
產(chǎn)地: 深圳
測量方法: X射線熒光光譜
適用范圍: 多元素分析儀器
測量面積: 最小0.002mm2
測量范圍: 23層鍍層,24鐘元素
儀器優(yōu)勢: 同元素不同層分析
儀器特點: 可變焦對焦
型號: XAU-4C(B)
測量時間: 3-200s
商品介紹

性能優(yōu)勢:

1.微小樣品檢測:最小測量面積0.03mm2(加長測量時間可小至0.01mm2)

2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達0-30mm

3.獨創(chuàng)的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元 素,甚至有同種元素在不同層也可精準測量。   

4.先進的解譜技術:減少能量相近元素的干擾,降低檢出限。   

5.高性能探測器:SDD硅漂移窗口面積25mm2探測器。   

6.X射線裝置:微焦加強型射線管搭配聚焦裝置。 

 

核心的EFP算法

       專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎上,多元迭代開發(fā)出EFP核心算法,結合先進的光路轉(zhuǎn)換的技術、變焦結構設計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標樣來校正儀器因子,可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

xau-4c(b)3

 

RoHS檢測及標定

XAU-4C(B)4

 

XAU-4C(B)5

 

XAU-4C(B)6



,
聯(lián)系方式
公司名稱 深圳南山區(qū)美程精密儀器商行
聯(lián)系賣家 楊經(jīng)理
手機 㜉㜆㜈㜆㜋㜌㜇㜉㜅㜄㜄
地址 廣東省深圳市