廣州景頤光電科技有限公司主營：透過率檢測儀,光纖光譜儀,反射率測試儀,光譜分析儀,色度計(jì),
光纖光譜儀

光譜儀器是進(jìn)行光譜學(xué)研究和物質(zhì)光譜分析的儀器,通過對光譜的測量來完成光成分的分析、材料光學(xué)屬性的測量以及物質(zhì)成分的鑒定,是一種基本的光學(xué)檢測儀器。光譜儀

自從年牛頓發(fā)現(xiàn)了太陽光的色散現(xiàn)象建立了光譜學(xué)實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ),到年克希霍夫制造了臺(tái)光譜儀,再到目前多規(guī)格多用途的光譜儀器設(shè)備,在這多年中隨著新技術(shù)諸如光電子學(xué)、計(jì)算機(jī)、激光及先進(jìn)的加工制造技術(shù)等不斷的發(fā)展和引入,以及光譜與光譜分析學(xué)自身的快速發(fā)展,光譜儀器的性能不斷提高且適用領(lǐng)域也不斷地?cái)U(kuò)大。光譜與光譜分析學(xué)已經(jīng)成為一門獨(dú)立的學(xué)科服務(wù)于其他各領(lǐng)域,而且光譜儀器也成為一種基本的測量儀器,廣泛地應(yīng)用于各領(lǐng)域光譜儀

光纖光譜儀

像元高度方向?yàn)榉巧⒕S,所以像元高度的大小不會(huì)對系統(tǒng)的光譜分辨率造成影響。然而對于實(shí)際的色散成像光學(xué)系統(tǒng)而言,像散、彗差等像差影響著光學(xué)系統(tǒng)的實(shí)際成像光斑。在這些像差的影響下,成像光斑在色散方向成像寬度時(shí),在高度方向會(huì)有一定的擴(kuò)展。光譜儀

對于二維CCD探測器而言,這種成像缺陷的影響可以被降到,然而對于線陣的CCD探測器而言,由于像元高度方向受限,所以成像光斑高度方向的擴(kuò)展可能會(huì)造成較大的光能損失。光譜儀

為了使這種影響降到,。CCD的像元在高度方向應(yīng)該具有較大的尺寸從而保證實(shí)際成像光斑盡可能被探測器采集。綜合上面的分析可知,本系統(tǒng)應(yīng)選用矩形像元的。且像元的寬度應(yīng)為10μm左右。光譜儀

光譜光纖儀

光譜儀的性能主要是由光譜范圍、光學(xué)分辨率和靈敏度來決定。對以上其中一項(xiàng)參數(shù)的變動(dòng)通常將影響其它的參數(shù)的性能。

光譜儀主要的挑戰(zhàn)不是在制造時(shí)使所有的參數(shù)指標(biāo)達(dá)到高，而是使光譜儀的技術(shù)指標(biāo)在這個(gè)三維空間選擇上滿足針對不同應(yīng)用的性能需求。這一策略使光譜儀能夠滿足客戶以小的投資獲取大的回報(bào)。這個(gè)立方體的大小取決于光譜儀所需要達(dá)到的技術(shù)指標(biāo)，其大小與光譜儀的復(fù)雜程度以及光譜儀產(chǎn)品的價(jià)格相關(guān)，