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產(chǎn)品名稱：LCR測試儀

品 牌： HP

產(chǎn)品型號： 4286A

產(chǎn)品指標： 1MHz-1GHz

產(chǎn)品信息： Agilent4286A射頻LCR測試儀

Agilent 4286A射頻LCR測試儀在1MHz～1GHz頻率范圍可以提供***、可靠和快速測量，以改進生產(chǎn)線上對電子元件進行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測量技術(shù)不同，采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進行***測量。

生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠

4286A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4286A的測量非常快。此外，在小測試電流(100μA)處優(yōu)良的測試重復性還可以***提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過程非常短。

系統(tǒng)組建簡單

測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。

便于使用

8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程?？蛇x用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7 SMD測試夾具可以與4286所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無需制作***夾具。

技術(shù)指標

技術(shù)指標參見數(shù)據(jù)資料表

測量參數(shù)：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度），θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同時顯示4種測量參數(shù)）。

測試頻率：1MHz～1GHz

頻率分辨力：100KHz

測試信號：

V:4.47mV～502mV(f≤1GHz); 4.47mV～447mV(f>1GHz)

I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)

電平監(jiān)視功能：電壓，電流

基本的Z精度：±1.0%

測量范圍：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%)

測量時間：每點9ms（速）

Rdc測量：可用于觸點檢查

校準：開路/短路/負載/低損耗電容量

補償：開路/短路,電長度

大容量存儲功能：30MB固態(tài)大容量存儲或2 GB硬盤（選擇選件）

接口：GPIB,LAN(10Base-T/100Base-Tx自動選擇)，處理器接口

顯示：8.4英寸彩色LCD顯示器

一般指標

電源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax，

工作溫度/濕度:5℃～40℃,相對濕度20%～80%

尺寸：234mm高×425mm寬×445mm深（主機）

重量：16kg/0.3kg（典型值）（主機/測試頭）

主要技術(shù)資料

4286A射頻LCR測試儀產(chǎn)品介紹，p/n 5968-5443E

4286A技術(shù)指標：p/n 5968-5758E

LCR測試儀，阻抗分析儀和測試夾具選購指南，p/n 5952-1430E

訂貨信息

4286A射頻LCR測試儀

供應的附件：測試頭（1m），3.5mm～7mm適配器，16195B APC-7校準配件，鼠標器，鍵盤，操作手冊和電源線（4286A不提供測試夾具）

選件

選件001刪去16195B校準工具箱

選件002刪去測試夾具座

選件003刪去3.5mm～7mm適配器

選件004增加工作標準套件

選件010硬盤驅(qū)動大容量存儲器

選件011 固態(tài)大容量存儲器

選件020 增加電纜延伸套件

可提供的附件

16190B性能測試配件

16195B 7mm校準工具箱

16191A側(cè)面電極SMD夾具

16192A平行電極SMD夾具

16193A小側(cè)面電極SMD夾具

16194A高溫測試夾具

16196A用于1608(mm)的平行電極SMD夾具

16196B用于1005(mm)的平行電極SMD夾具

16196C用于0603(mm)的平行電極SMD夾具

19197A底面電極SMD夾具