射頻探針應(yīng)用于：
1）射頻和微波模塊信號(hào)插入，檢測(cè)和測(cè)量輸出；
2）高頻電路板電氣性能分析；
3）高速數(shù)字電路分析
奧納科技銷(xiāo)售射頻探針，主要是日本muRata村田探針。
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村田無(wú)電纜探針主要用于實(shí)驗(yàn)室評(píng)估，測(cè)量電纜能夠與村田探針相連，配合完成后，探針可憑借與連接器接觸點(diǎn)上的夾爪自行站立，配合完成后對(duì)探針施加的任何壓力都可能導(dǎo)致探針脫落，連接受損或電級(jí)剝離。需要細(xì)心使用測(cè)試。這類探針一般采用SMA接口進(jìn)行轉(zhuǎn)接。

村田探針主要與帶開(kāi)關(guān)的高頻同軸連接器和高頻同軸連接器相匹配來(lái)測(cè)試使用。不同型號(hào)的高頻同軸連接器對(duì)應(yīng)的村田探針型號(hào)也不相同，不同的排列方式也有不同體積的探針選擇。

村田自動(dòng)探針（無(wú)張力型）可用于產(chǎn)線大批量測(cè)試，其與帶浮動(dòng)機(jī)構(gòu)的自動(dòng)探針功能相同，該探針具有結(jié)構(gòu)，因此不受電纜張力影響，該探針使轉(zhuǎn)換電纜更易操作。
其他一些相關(guān)的概念
Probe pitch：指的是針尖(Probe Tips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對(duì)于毫米波頻率的應(yīng)用，針尖間距一般都比較小。
Probe skate :當(dāng)你在Z軸方向往下“按壓”探針時(shí)，當(dāng)探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動(dòng)。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個(gè)現(xiàn)象。
De-embeding :去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù)，之前經(jīng)常用在一些標(biāo)準(zhǔn)的分立的夾具測(cè)試中。