NP-AFM

 NP-AFM是一臺納米分析儀器，用于樣品表面粗糙度和樣品微尺度分析。主要應用包括工藝開發(fā)和技術樣品制作的過程控制。

NP-AFM Overview

§ NP-AFM是一套完整的納米分析系統(tǒng)，包括進行掃描樣品需要的所有工具：顯微鏡主機，電控箱，控制計算機，探頭，手冊和視頻顯微鏡。 NP-AFM系統(tǒng)標準樣品尺寸200mm×200mm的×20mm，可選配各類不同大小的樣品臺。

AFM 納米分析對象:
- 各種技術樣品
- 晶片,磁盤

三個樣品臺選項，可以適應樣品臺大小 200mm X 200mm X 20mm

內置高分辨率視頻顯微鏡

線性化XY軸壓電掃描器

適用于各類標準尺寸探針

包含輕敲模式接觸模式，以及橫向力和相位模式

實用電動下針模式

 LabVIEW-based 軟件

使用行業(yè)標準的光學杠桿傳感器，所有標準掃描模式都為標配，輕敲模式用于高分辨率成像和軟樣品，接觸模式用于日常掃描，相位模式和橫向力模式也包含在系統(tǒng)內。

控制軟件由LabVIEW編寫，非常簡單易用。不同的窗口指導用戶完成整個過程：預掃描窗口用于原子力顯微鏡尋找合適區(qū)域以及下探針，掃描窗口用于采集圖像，力曲線窗口用于測量F / D曲線，，一個系統(tǒng)窗口用于修改系統(tǒng)參數(shù)。

NP-AFM 適用于各類技術樣品(如晶片磁盤)的日常掃描,已經納米研究.

NP-AFM 性能

晶片分析

原子力顯微鏡是一個非常高分辨率的分析儀器,它能夠對各種經過處理的晶片進行測量,其中包括：

表面形貌的成像 - 通常表面特征的成像可以幫助確認一個過程是否已經有效的完成。 AFM對于在晶圓工藝中經常遇到的超平樣品也可以提供極高的對比度。

表面粗糙度/紋理測量 – 原子力顯微鏡是可以用于納米級表面粗糙度測量的儀器。加上適當?shù)姆勒鸶粢粽郑梢詼y量表面紋理低至0.1納米的樣品。

臺階高度測量 -原子力顯微鏡能夠用于臺階高度測量,可以測量從0.3納米至500納米的臺階高度。標配的高分辨率的視頻顯微鏡用于定位掃描區(qū)域

下面是一個例子的測量有圖案的使用CMP拋光的晶圓。下面是一個光學顯微鏡圖像的三個測量位置?？梢姽鈱W顯微鏡圖像中的懸臂;紅色的激光用于探針AFM探針光學傳感器。測量的位置被確定為1,2和3。

位置 1 - Visualization

掃描區(qū)域1 AFM圖像所得的結果。圖像上有隨機的凹痕，這些凹痕在光學顯微鏡圖像中不可見。通過放大AFM,我們可以看到正確的圖像,碎片狀邊緣。凹痕的寬度約為90 nm和深度是10納米。

Region 2 - 表面粗糙度掃描圖像2沒有出現(xiàn)在圖像1中的明顯結構。下圖是一個圖像2的3D結構圖。樣品表面的粗糙度位1.69nm十倍于AFM的本底噪音。

Region 3 – 臺階高度測試

圖像3是一系列大約為1um寬度的光柵結構，在光學顯微鏡圖片中可見。下圖位區(qū)域3的AFM圖像。使用.直方圖統(tǒng)計光柵高度為43nm。

NP-AFM Stage

NP-AFM階段具有良好的熱和機械穩(wěn)定性以滿足高分辨率的AFM成像。此外,其開放設計方便用戶修改。

高分辨率Z軸

直接驅動Z方向控制運動運動距離330nm,探針接近。軟件控制Z軸快速上下移動光杠桿和調節(jié)自動探測探針接近樣品。

樣品臺

NP-AFM有多個樣品臺可以選擇,包括2 x3英寸移動分辨率為2μm手動樣品臺,和一個可以放置晶圓和光盤的大型樣品臺。

光學杠桿

NPAFM使用行業(yè)通用光杠桿力傳感器。NP的探針夾持器適用于幾乎所有商用AFM探針。光杠桿力傳感器可以測量各種標準AFM模式,包括輕敲、接觸、側向力和相模式。

上視光學系統(tǒng)

高分辨率光學顯微鏡有一個可變焦鏡頭允許的視野在2 X 2毫米到300um X300um之間縮放。光學顯微鏡對調整激光光杠桿至關重要,方便實現(xiàn)對探針的掃描定位功能。

XY掃描器

在XY掃描中,線性壓電陶瓷利用實時反饋控制以確保準確測量。多層耦三角平板設計(MMTD)的xy掃描器提供了的碗形扭曲。

探針夾持器

光杠桿力傳感器部分使用了帶有彈簧夾式的模塊化的探頭夾持器。NP-AFM可以在不到2分鐘的時間完成探針的更換

NP-Atomic Force Microscope樣品臺示意圖

NP-AFM 4012 樣品臺

NP-AFM-4012 樣品臺是設計容納各種樣品的形狀和大小。該樣品臺有6 個標準的原子力顯微鏡磁性樣品夾持器。自定義大小的樣本夾持器可以很容易地設計并添加到樣品臺上。

NP-AFM 4022樣品臺

直徑的達8“晶片和光碟也可以使用在NP-AFM 4022 樣品臺上。真空吸盤有一個獨特的設計使樣品牢固同時也能快速調整，以適應不同直徑的樣本量。有一個雙軸移動臺可以定位原子力顯微鏡成像區(qū)域。