美國GE超聲波探傷儀 TR斜探頭 VRY70 有單晶和雙晶可選
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美國GE超聲波探傷儀-TR斜探頭-VRY70-有單晶和雙晶可選

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品牌 美國GE
產(chǎn)地 美國
是否進口
加工定制
貨號 VSY60
型號 VSY60
測量范圍
測量精度
尺寸 8*8*20
重量 0.1
商品介紹

 美國GE探傷儀探頭TR斜探頭

 


一般信息

本目錄中的超聲換能器分為兩個一般類別,“接觸”和“浸入”。



接觸式換能器檢驗方法

直梁—單個元素

?具有規(guī)則幾何形狀的零件和相對光滑的接觸面

?平坦或彎曲的接觸面

?缺陷或與墻面平行的底壁或可檢測到垂直于表面的光束

?用于厚實的滲透


欄目

?延遲線類型改善了近地表解析度

?需要耦合劑層,通常是凝膠,油或糊劑

?通常用于手動檢查直光束-雙元素(TR)

?發(fā)送和接收元素被串擾隔離

?缺陷或與墻面平行的底壁或可檢測到垂直于表面的光束

?最適合薄型表面,近表面解析度

?需要耦合劑層,通常是凝膠,油或糊

?通常用于手動檢查角鋼

?元件安裝在一體式或可更換的楔子

?使用折射來傳遞剪切力或縱波在預(yù)定角度

?大多數(shù)標準換能器產(chǎn)生通過模式轉(zhuǎn)換得到的橫波

?用于傾斜零件缺陷,例如焊縫

?提供單元素和雙元素類型

?需要耦合劑層,通常是凝膠,油或糊劑

?有時用于機械化或自動化測試



浸入式傳感器

?聲學(xué)匹配水效率

?適用于不規(guī)則零件幾何形狀

?常用于機械化或自動化測試

?方法,以實現(xiàn)一致的耦合和可重現(xiàn)的結(jié)果

?大型零件可以使用探頭支架,鼓泡器或水射流

?換能器可專注于改進結(jié)果


聚焦浸入式傳感器

?球形焦點形成一個點或點

?圓柱焦點形成一條線集中優(yōu)勢球形(點)重點圓柱(線)

重點

提高對小缺陷的敏感性提高近表面分辨率修正輪廓表面提高信噪比


探頭選擇規(guī)范與性能


本目錄中掃描分為兩大類:接觸式和水浸式


接觸法探頭


直射線---單晶

?被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面

?接觸面或平或曲

?缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測

?透透厚部件

?逐步塊改善提高近場分辨率

?需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊

?通常用于手動檢測


直探頭---雙晶

?接受發(fā)射單元用串擾擋板分開

?缺陷或背反射平行于表面,可被垂

直于表面的聲束探測

?近表面分辨率好,用于較薄部件

?需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊

?通常用于手動檢測


斜探頭

?芯片安裝在內(nèi)置的或可更換的斜塊上

?利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

?大多數(shù)標準探針通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波

?有所傾斜的缺陷的檢測,如焊縫

?有單晶探頭和雙晶探頭

?需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊

?有時用于機械化或自動化檢測2個換能器選擇標準和性能

 

   

 

 

·單獨的發(fā)射和接收相傾斜,產(chǎn)生一個聚焦區(qū)域,提高缺陷探測能力

·VS..類型探頭進行橫波斜掃描

·粗晶探頭進行縱波斜掃描

·當測試強聲波散射特性材料時,短脈沖粗晶探頭可以獲得很高信噪比

·外殼堅固實用

 

通常:

近表面或者確定區(qū)域小缺陷檢測和評估,這些位置是

TR探頭不能靠近的區(qū)域,還有那些與表面垂直或成一定角度的

缺陷。

VS60

3.5×10

4

4

4

4

45

60

70

1.5-800

1.5-560

1.5-560

 

VRY45

10×22

1.8

1.8

1.8

45

60

70

 

 

VSY45-2

VSY45

VSY60

 

2

2

2

4

4

4

45

60

70

45

60

70

 

測試粗粒材料

VRY70和VSY70合

適于在低碳鋼中激

發(fā)蠕變波





 

深圳市泰立儀器儀表有限公司 - 代理許多國際知名的高科技儀器和設(shè)備,其中尤以無損檢測和金相理化設(shè)備為主。包括:超聲、渦流、漏磁、磁粉、射線、金相制樣、光譜等等。

 

材料檢測為產(chǎn)品質(zhì)量提供了可靠的,同時增加了附加成本。但從另一角度考慮這一附加成本,質(zhì)量確實對節(jié)約潛在成本提供了有價值的代價。按優(yōu)化的生產(chǎn)流程您可以獲得幾個關(guān)鍵性的好處,提高生產(chǎn)效率,降低失效的危險性,同時延長設(shè)備的使用壽命。

 

 

無損檢測

電導(dǎo)率測量    磁導(dǎo)率測量儀    超聲波硬度計   挺度測試儀  磨耗儀  精密切割機  研磨拋光機  涂層測厚儀 超聲波測厚儀  UT探傷儀 UT/PA 相控陣探傷儀 水浸C掃描系統(tǒng) 磁粉探傷機 移動式磁粉探傷機

便攜式渦流探傷渦流探傷統(tǒng)   x射線成像系統(tǒng)  工業(yè)x射線機 x光探傷機 x光洗機 工業(yè)x射線實時成像檢測系統(tǒng) 數(shù)碼成像系統(tǒng) 自動洗片機 

 

 

理化檢測

光譜分析儀  |  直讀光譜儀  |  便攜式光譜儀  |  便攜式直讀光譜儀  |  德國光譜儀   |  磨拋機  |  研磨機    |  手動切割機  |  鑲樣機  |  臺式光譜儀    |  自動鑲樣機  |  固定式光譜儀  |  切割機   |   德國貝萊克  | 法國LAMPLAN  |  德國belec 

 

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