波恩儀器銷售德國(guó)SENTECH SENpro經(jīng)濟(jì)型可變?nèi)肷浣枪庾V橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
波恩儀器銷售德國(guó)SENTECH SENpro經(jīng)濟(jì)型可變?nèi)肷浣枪庾V橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
波恩儀器銷售德國(guó)SENTECH SENpro經(jīng)濟(jì)型可變?nèi)肷浣枪庾V橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
波恩儀器銷售德國(guó)SENTECH SENpro經(jīng)濟(jì)型可變?nèi)肷浣枪庾V橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
波恩儀器銷售德國(guó)SENTECH SENpro經(jīng)濟(jì)型可變?nèi)肷浣枪庾V橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
波恩儀器銷售德國(guó)SENTECH SENpro經(jīng)濟(jì)型可變?nèi)肷浣枪庾V橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
波恩儀器銷售德國(guó)SENTECH SENpro經(jīng)濟(jì)型可變?nèi)肷浣枪庾V橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀

波恩儀器銷售德國(guó)SENTECH-SENpro經(jīng)濟(jì)型可變?nèi)肷浣枪庾V橢偏儀-低成本的光譜橢偏儀

價(jià)格

訂貨量(套)

¥850000.00

≥1

聯(lián)系人 李經(jīng)理 經(jīng)理

掃一掃添加商家

萦营萧萨萦萬萦萦萤萦营

發(fā)貨地 北京市昌平區(qū)
進(jìn)入商鋪
掃碼查看

掃碼查看

手機(jī)掃碼 快速查看

在線客服

商品參數(shù)
|
商品介紹
|
聯(lián)系方式
品牌 SENTECH
是否進(jìn)口
用途 SENTECH
主要用途 測(cè)量單層膜或多層膜的膜厚、折射率和消光系數(shù)
產(chǎn)品尺寸 測(cè)量單層膜或多層膜的膜厚、折射率和消光系數(shù)
產(chǎn)地 德國(guó)
質(zhì)保 一年
型號(hào) SENpro經(jīng)濟(jì)型
商品介紹

波恩儀器銷售德國(guó)SENTECH SENpro經(jīng)濟(jì)型可變?nèi)肷浣枪庾V橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀



成本效益

SENpro是具成本效益的光譜橢偏儀,同時(shí)不影響先進(jìn)測(cè)量性能。

可變?nèi)肷浣?/span>

光譜橢偏儀SENpro包括可變?nèi)肷浣堑慕嵌扔?jì),40°—90°,步進(jìn)值5°,用于優(yōu)化橢偏測(cè)量。

步進(jìn)掃描分析器

SENpro具有獨(dú)特的步進(jìn)掃描分析器。在數(shù)據(jù)采集過(guò)程中,偏振器和補(bǔ)償器固定,以提供高的橢偏測(cè)量精度。

光譜橢偏儀SENpro具有操作簡(jiǎn)單,測(cè)量速度快,能對(duì)不同入射角的橢偏測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行組合分析等特點(diǎn)。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結(jié)合,可以輕易地確定單層膜和復(fù)合層疊膜的厚度和折射率。

具有成本效益的桌面式SENpro包括可見(jiàn)光到近紅外橢偏儀光學(xué),5°步進(jìn)角度計(jì),樣品臺(tái)、激光準(zhǔn)直器、光纖耦合穩(wěn)定光源和探測(cè)器單元。SENpro配備了用于系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)分析的光譜橢偏儀軟件SpectraRay/4 ,用于包括建模,擬合和報(bào)告輸出。即使對(duì)于初學(xué)者,該程序文件操作都非常容易。SpectraRay/4 支持計(jì)算機(jī)控制的用于均勻性測(cè)量的自動(dòng)掃描。

SENpro專注于薄膜測(cè)量的速度和精度,不管是何種薄膜應(yīng)用。測(cè)量范圍從1 nm的薄層膜到15 μm的厚層膜。

對(duì)于各種各樣的應(yīng)用,SpectraRay/4都提供了預(yù)定義的配方。

Manual goniometer with 5° stepsComplete set: SENpro spectroscopic ellipsometer with controller and laptopSpectroscopic ellipsometer SENpro for easy handling

SENpro 是全新的經(jīng)濟(jì)型光譜橢偏儀的代表, 操作簡(jiǎn)易, 多角度或單角度入射快速測(cè)量并分析數(shù)據(jù)。 SENpro可測(cè)量單層膜或多層膜的膜厚、折射率和消光系數(shù)。也能夠測(cè)量各角度入射反射光譜和透射光譜,并同橢偏測(cè)量數(shù)據(jù)結(jié)合分析。使用補(bǔ)償器,可自動(dòng)糾正非理想薄膜導(dǎo)致的退偏效應(yīng)。

SENpro 帶有光譜橢偏儀分析軟件 SpectraRay LT,可對(duì)系統(tǒng)硬件控制和數(shù)據(jù)分析, 如測(cè)量數(shù)據(jù)、建模、擬合和輸出結(jié)果。

主要應(yīng)用:

1,測(cè)量透明薄膜的厚度和折射率(厚度范圍0.1 nm - 10,000 nm),可工作于透明或吸收基底。 

2,測(cè)量多層膜 

3,分析非晶硅、多晶硅薄膜和SOI膜

4,測(cè)量光刻膠的光學(xué)常數(shù)

5,分析有機(jī)薄膜

6,測(cè)量各向異性材料和薄膜

選項(xiàng):
手動(dòng)或自動(dòng)地貌圖掃描樣品臺(tái) (50 mm x 50 mm ... 200 mm x 200 mm)
SpectrRay – SENTECH 高端光譜橢偏儀分析軟件 PC
技術(shù)指標(biāo):
光譜范圍:
380 nm - 1050 nm
入射角:
40o - 90o, 5° 步進(jìn)值
樣品厚度:
< 8 mm
樣品直徑:
最大 200 mm
光斑直徑:
2 mm

聯(lián)系方式
公司名稱 北京波恩儀器儀表測(cè)控技術(shù)有限公司
聯(lián)系賣家 李經(jīng)理 (QQ:2019288892)
電話 萨萦萨-营萫萪萨萧萩萨萫
手機(jī) 萦营萧萨萦萬萦萦萤萦营
傳真 萨萦萨-萧萬萧萫萫萨萧萦
網(wǎng)址 http://www.beyq1718.com/
地址 北京市昌平區(qū)
聯(lián)系二維碼