丞普諾 能量色散型X熒光光譜儀 日立膜厚儀 西寧膜厚儀供應(yīng)
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丞普諾-能量色散型X熒光光譜儀-日立膜厚儀-西寧膜厚儀供應(yīng)

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丞普諾儀器(蘇州)有限公司

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江蘇省蘇州市

主營產(chǎn)品

有色金屬分析儀

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商品參數(shù)
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商品介紹
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聯(lián)系方式
品牌 丞普諾
型號 XTU-A
類別 下照式
儀器尺寸 550mm*480mm*470mm
儀器重量 45KG
XY軸工作臺移動范圍 50mm*50mm
XY軸工作臺最大承重 5KG
測量元素范圍 CI(17)-U(92)
不同層相同元素檢查能力 選配
涂鍍層分析范圍 CI(17)-U(92)
分析軟件 同時分析23個鍍層24種元素
X射線裝置 微聚焦射線管
準(zhǔn)直器 φ0.5mm、φ0.2mm兩準(zhǔn)直器任選一種
測量距離 具有距離補(bǔ)償功能,可改變測量距離測量凹凸異行物品,變焦距離可達(dá)0-30mm
對焦方式 高敏感鏡頭,手動對焦
樣品臺移動 手動無滑軌
其他附件 電腦一套,噴墨打印機(jī),附件箱,12元素片,電鍍液測量杯(選配)標(biāo)準(zhǔn)片(選配)
商品介紹

丞普諾儀器(蘇州)有限公司產(chǎn)品完全可以與國外同類產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術(shù)人才具有豐富的設(shè)計制造經(jīng)驗。多年來與各大學(xué)、科研院所保持著緊密的合作關(guān)系。

膜厚儀也叫X射線測厚儀,它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來,而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度,來進(jìn)行定性和定量分析。

膜厚儀采用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可丈量,如航天表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過校準(zhǔn)同樣也可丈量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。

膜厚儀的使用:

測定準(zhǔn)備

(1)確保電池正負(fù)極方向正確無誤后設(shè)定。

(2)探頭的選擇和設(shè)定:在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準(zhǔn)測定對象,在本體上進(jìn)行設(shè)定。

測定方法

(1)探頭的選擇和安裝方法:確認(rèn)電源處于OFF狀態(tài),與測定對象的質(zhì)地材質(zhì)接觸,安裝LEP-J或LHP-J。

(2)調(diào)整:確認(rèn)測定對象已經(jīng)被調(diào)整。未調(diào)整時要進(jìn)行調(diào)整。

(3)測定:在探頭的末端加一定的負(fù)荷,即使用[一點接觸定壓式]。抓住與測定部接近的部分,迅速在與測定面成垂直的角度按下。下述的測定,每次都要從探頭的前端測定面開始離開10以上。使用管狀的東西連續(xù)測定平面時,如果采用探頭適配器,可以更加穩(wěn)定地進(jìn)行測定。

膜厚測試儀的工作原理,當(dāng)心損壞機(jī)器

涂鍍層測厚儀的相關(guān)工作原理之近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制丈量信號。還采用設(shè)計的集成電路,引入微機(jī),使丈量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的進(jìn)步(幾乎達(dá)一個數(shù)目級)?,F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀,分辨率達(dá)磁感應(yīng)測厚儀_電渦流丈量原理_磁吸力丈量原理及測厚儀_電渦流原理的測厚儀到0.1um,應(yīng)誤差達(dá)1%,量程達(dá)10。

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公司名稱 丞普諾儀器(蘇州)有限公司
聯(lián)系賣家 李女士
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地址 江蘇省蘇州市