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西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司 
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西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
店齡6年 · 
企業(yè)認(rèn)證 · 
陜西省西安市
主營(yíng)產(chǎn)品: 高溫反偏差測(cè)試系統(tǒng), 半導(dǎo)體器件測(cè)試篩選系
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店齡6年 · 企業(yè)認(rèn)證 · 陜西省西安市 西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 高溫反偏差測(cè)試系統(tǒng), 半導(dǎo)體器件測(cè)試篩選系
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天光測(cè)控晶體管圖示儀-測(cè)試范圍廣-曲線分析
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商品參數(shù)
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商品介紹
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品牌 天光測(cè)控
型號(hào) ST-SP 2010
測(cè)量范圍 ±2.5mV~2KV / ±1nA~100A
測(cè)量精度 1%+10mV / 1%+10nA+20pA/V
測(cè)試范圍 19類器件（IGBT,MOSFET,Diode等&
測(cè)試項(xiàng)目 直流靜態(tài)參數(shù)
柵極電壓 ±2.500mV~20V（選配80V）
柵極電流 ±2.500mV~20V（選配80V）
商品介紹
天光測(cè)控晶體管圖示儀 測(cè)試范圍廣 曲線分析
● IV曲線顯示/局部放大
● 程序保護(hù)*大電流/電壓,以防損壞
● 品種繁多的曲線
● 可編程的數(shù)據(jù)點(diǎn)對(duì)應(yīng)
● 增加線性或?qū)?shù)
● 可編程延遲時(shí)間可減少器件發(fā)熱
● 保存和重新導(dǎo)入入口程序
● 保存和導(dǎo)入之前捕獲圖象
● 曲線數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到EXCEL
● 曲線程序和數(shù)據(jù)自動(dòng)存入EXCEL
● 測(cè)試范圍廣（19大類、27分類）
ID vs. VDS at range of VGS ID vs. VGS at fixed VDS IS vs. VSD RDS vs. VGS at fixed ID RDS vs. ID at several VGS IDSS vs. VDS / HFE vs. IC BVCE（O,S,R,V） vs. IC BVEBO vs. IE BVCBO vs. IC VCE（SAT） vs. IC VBE（SAT） vs. IC VBE（ON） vs. IC （use VBE test） VCE（SAT） vs. IB at a range of ICVF vs. IF
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公司名稱 西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
聯(lián)系賣家 張先生
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地址 陜西省西安市
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